產(chǎn)品老化的意義：隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成化程度越來越高，結(jié)構(gòu)越來越細(xì)微，工序越來越多，制造工藝越來越復(fù)雜，這樣在制造過程中會產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時,因設(shè)計不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題概括有兩類，*類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求；第二類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運行一千個小時左右才能全部被激活（暴露）。顯然，對每只元器件測試一千個小時是不現(xiàn)實的，所以需要對其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗，來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期。而通過高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過程中存在的隱患提前暴露，老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測量，篩選剔除失效或變值的元器件，盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用，從面保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時間的考驗。老化的意義總結(jié)而言是通過對電子產(chǎn)品施加加速環(huán)境應(yīng)力，如溫度應(yīng)力、電應(yīng)力、潮熱應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力等，促使?jié)撛谌毕菁铀俦┞冻晒收希_(dá)到發(fā)現(xiàn)和剔除潛在缺陷的目的。

 

高溫老化房在試驗完畢后正確的操作方法：

1、高溫老化房使用完畢，應(yīng)先切斷“高壓”開關(guān)，然后切斷“低壓” 開關(guān)，否則由于電子管燈絲的余熱，可能使電路工作在不正常的條件下，造成意外的故障。

2、高溫老化房使用完畢，應(yīng)先切斷儀器的電源開關(guān)，然后取離電源插頭。應(yīng)禁止只拔掉電源插頭而不切斷儀器電源開關(guān)的簡單做法，也應(yīng)反對只切斷電源開關(guān)而不取離電源插頭的習(xí)慣。前一種情況使再次使用老化箱時，容易忽略開機(jī)前的準(zhǔn)備工作，而使儀器產(chǎn)生不應(yīng)有的沖擊現(xiàn)象；后一種情況可能導(dǎo)致忽略儀器局部電路電源的切斷，而使這一部分電路一直處于通電狀態(tài)（例如數(shù)字頻率計的主機(jī)電源開關(guān)和晶 體振蕩器部分的電源開關(guān)一般都是分別裝置的。

3、高溫老化房使用完畢，應(yīng)將使用過程中暫時取離或替換的零部件 (如接線柱、插件、探測器、測試筆等）整理并復(fù)位，以免散失或錯配而影響工作和測量準(zhǔn)確度。必要時應(yīng)將儀器加罩，以免積灰塵。